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日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04可以在短時間內(nèi)分析數(shù)十萬個顆粒,消除了用顯微鏡檢查的麻煩。通過目視檢查顆粒圖像,可以直接檢查其是初級顆粒還是聚集顆粒,以及數(shù)值。
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日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04 特點介紹
可以在短時間內(nèi)分析數(shù)十萬個顆粒,消除了用顯微鏡檢查的麻煩。
通過目視檢查顆粒圖像,可以直接檢查其是初級顆粒還是聚集顆粒,以及數(shù)值。
相機(jī)的分辨率得到了提高,可以更詳細(xì)地看到顆粒圖像,并且通過添加新的內(nèi)置超聲波分散裝置,現(xiàn)在可以通過這個單一裝置執(zhí)行從分散到測量的所有操作。
測量時實時顯示顆粒的流動狀態(tài),并顯示分散狀態(tài)和最大顆粒,讓您一目了然。您不僅可以使用形狀和大小等參數(shù)繪制散點圖,并根據(jù)需要更改參數(shù)來重新繪制散點圖,而且只需移動光標(biāo)即可顯示該位置的粒子圖像和分析結(jié)果。
PITA-04可以在最佳的顆粒成像環(huán)境中進(jìn)行顆粒圖像分析處理,包括我們?yōu)楂@得清晰的顆粒圖像而開發(fā)的平面膨脹單元以及采用最新的光學(xué)系統(tǒng)。
日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04 規(guī)格參數(shù)
超聲波分散罐標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
載液罐內(nèi)置于主體中
測量時間縮短 相機(jī)幀速率大約增加一倍
自動清洗功能標(biāo)準(zhǔn)化
與有機(jī)溶劑兼容
豐富的軟件輔助功能,即使是初次使用的用戶也能輕松進(jìn)行測量
分析項目 個數(shù)粒徑分布、體積/面積當(dāng)量粒徑分布、平均粒徑、最大粒徑、最小粒徑、中值粒徑
測量項目 當(dāng)量圓直徑、圓度、長徑比、長軸、短軸、周長、包絡(luò)周長、閉孔曲線面積、不平度
顯示項目 顆粒圖像、散點圖、粒度分布圖、裂紋和碎片數(shù)、分散度、測量/分析項目明細(xì)表、單顆粒測量結(jié)果
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